X-Ray Techniques

kehittyminen eri X-ray tekniikoita auttaa monia teollisuudenaloja lääketieteen alalla teolliseen muotoiluun. X-ray auttaa määrittämään tiettyjä alkuaineita ja ominaisuuksia tietyn materiaalin tehdä tarkemman diagnoosin tai tutkimusta lääketieteen, tieteellisten tai teollisten ongelma tai huolta. Se myös määrittelee muita seikkoja, jotka auttavat parantamaan tutkimuksia, hoitoja ja kehityksen ehto tai product.Modern X-ray tekniikat perustuvat järjestelmät yleensä vaadi pienempinä annoksina säteilyä kuin vanhemmat versiot. Röntgenfluoresenssi Spectrometry

röntgenfluoresenssianalysoijalla spectrometry on rikkomattomat analyyttinen tekniikka, joka käyttää röntgensäteilyä joka syntyy näytteen tunnistamiseksi ja määrittämiseksi pitoisuudet erityisten alkuaineet kiinteä, jauhemainen ja nestemäisiä näytteitä. Tämä prosessi mittaa yksittäisen osan aallonpituudet fluoresenssiemissio tuottama näyte X-ray. Se pystyy mittaamaan elementtien ja jäljittämistä tasot usein alle yksi miljoonasosa.

Röntgenfluoresenssimenetelmiä on laajasti käytetty alkuaine ja kemiallisen analyysin, erityisesti lääketieteen tapauksissa ja tutkinta metallit, lasi-, keramiikka-ja rakennusmateriaalit . On myös hyödyllistä tutkimus-ja sovelluksia geokemiasta, Forensisessa ja arkeologia.
X-ray Crystallography

röntgenkristallografia on kokeellinen tekniikka, joka määrittelee järjestely atomien kristalli. Se mahdollistaa tutkijoiden kasvaa kiinteiden kiteiden molekyylejä tutkitaan, sitten ne toteuttavat blasteja röntgensäteiden kestää muutamasta sekunnista useisiin tunteihin. Prosessi hyödyntää tavoitteena suuritehoinen X-säteet pieni kide, joka sisältää miljardeja identtisiä molekyylejä, niin kuvio on valmistettu X-säteet rekisteröidään ja analysoidaan paljastaa luonteen hilan atomien.

crystallographers juuri pyörittää kide syöttämällä haluttu suunta tietokoneelle varustettu ohjaamaan röntgenlaitteen. Tekniikka mahdollistaa kaapata miten kristalli siroaa tai diffracts röntgensäteilyä kolmiulotteisesti.
X-ray fotoelektronispektroskopia

X-ray fotoelektronispektroskopia on kvantitatiivinen spektroskooppista tekniikkaa ja kemiallisen analyysin tekniikka, joka mittaa alkuainekokoonpanosta, empiirinen kaava, kemiallinen tila ja sähköisen tilan elementit olemassa tietyn materiaalia.

pinta-herkkä tekniikka, sitä käytetään analysoida pintakemiaa materiaalin läpi röntgenkuvat poistat elektroneja sisäsuojuksen orbitaalit. Se on myös hyödyllistä tunnistaa hapetustilassa atomin ja hankkimalla merkittävää tietoa alkuaineanalyysi kemiallisen tilan tiedot erilaisia ​​elementtejä. Se on näytteenotto tilavuus, joka ulottuu pinnan syvyys on noin 50-70 nm.