Erilaisia ​​elektronimikroskoopit

Elektronimikroskopia hyödyntää säde elektronien luoda korkean resoluution kuvia tavoite mallin. Ottaa huomioon, että valo mikroskoopit on rajoitettu niiden suurennos, jonka aallonpituus fotonit, elektronimikroskoopit rajoittavat paljon pienempi aallonpituus elektroneja, jolloin saavutetaan suurennus alas lähes 0,05 nanometriä. On olemassa neljä päätyyppiä elektronimikroskoopit, jotka kaikki voidaan karkeasti rajaamaa tyyppi heijastuu energian ne tallentaa mallin. Historia

ensimmäinen elektronimikroskoopilla, transmissioelektronimikroskoopilla, rakennettiin Saksan insinöörien Max Knoll ja Ernst Ruska vuonna 1931. Vaikka alkuperäinen prototyyppi saavutetaan pienempi suurennos kuin nykyinen valo mikroskoopit, Knoll ja Ruska onnistuneesti osoittautunut suunnittelu oli mahdollista ja kaksi vuotta myöhemmin ylitti valomikroskooppia suurennus teho. Kaikki seuraavat toistojen elektronimikroskoopilla perustuvat tämä alkuperäinen prototyyppi.
Transmissioelektronimikroskoopin (TEM)

Vaihteisto elektronimikroskoopit tuottaa kuvia kirjaamalla elektronisäteellä jälkeen on läpäissyt ohut siivu mallin. Näyte asetetaan kuparilanka verkkoon ja sille elektronisäteellä, se normaalisti käynnissä suuri jännite volframihehkulankainen. Elektronisäteellä kulkee kondensorilinssin, iskee mallin ja jatkuu tavoite ja projektiivinen linssit ennen keräilyä fosfori näyttö. Kuten kaikkien elektronimikroskoopilla, tavoite yksilö on kuivattu ja eristetty tyhjiössä välttää vesihöyryä saastuminen, joka voi aiheuttaa ei-toivottuja elektroni sironta. TEM tuottaa suurin suurennus kaikkien elektronimikroskoopit.
Pyyhkäisyelektronimikroskooppi (SEM)

Pyyhkäisyelektronimikroskoopit sekä siirto elektronimikroskoopit, ovat kaikkein laajalti käytetty. Toisin TEM, Pyyhkäisyelektronimikroskoopit tuottaa kuvia keräämällä keskiasteen tai epäelastisesti hajallaan elektroneja, jotka kimpoavat pinnan mallin. Ensisijainen elektronisuihkun kulkee useita lauhduttimen linssit, skannaus kelat ja objektiivin linssin ennen silmiinpistävää näytteen pinnalle. Elektronisäde hajallaan lyömällä näytteen ja keskiasteen elektroni ilmaisin kerää hajallaan elektroneja. Elektroni tiedot on sitten rasteri-skannattu tuottaa pintakuvia huomattavia syvyys alalla.
Reflection Electron mikroskooppi (REM)

Reflection elektronimikroskoopit toimivat hyvin samankaltainen hakukonemarkkinoijat rakenteeltaan. Rems kuitenkin kerätä takaisinsironneiden tai elastisesti hajallaan elektroneja jälkeen ensisijainen elektronisäteellä iskee näytteen pintaa. Reflection elektronimikroskoopit ovat yleisimmin yhdistettynä spin-polarisoitunut vähän energiaa elektronimikroskopia kuva magneettinen verkkotunnuksen allekirjoittamista näytteen pintojen tietokoneen virtapiirejä rakentamiseen.
Skannaus transmissioelektronimikroskoopin (KARA) finnish

skannaus siirto elektronimikroskoopit, kuten perinteinen TEM, siirtää elektronisäteellä kautta ohut siivu mallin. Sen sijaan, että elektronin säde jälkeen läpi näyte, varren keskittyy palkin etukäteen ja rakentaa kuvan kautta rasteripyyhkäisyn. Skannaus siirto elektronimikroskoopit soveltuvat hyvin analyyttinen kartoitus tekniikoita, kuten elektronin energian menetys spektroskopia ja rengasmainen tumma-kentän mikroskopia.